Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/236241Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Бринкевич, Д. И. | - |
| dc.contributor.author | Малиборский, А. Я. | - |
| dc.contributor.author | Бринкевич, Д. С. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-12-18T09:20:32Z | - |
| dc.date.available | 2019-12-18T09:20:32Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Ядерная физика и инжиниринг. - 2018. - Т.9, № 4. - с. 402–408 | ru |
| dc.identifier.issn | 2079-5629 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/236241 | - |
| dc.description.abstract | Исследованы процессы накопления радионуклидов в воде контура охлаждения циклотрона Cyclone 18/9 HC при облучении протонами мишени Nirta Fluor. Показано, что природа реакций активации воды контура охлаждения и мощность эквивалентной дозы от оборудования этой системы существенным образом зависит от накопленной на мишени дозы. Основным источником радионуклидов в воде контура охлаждения является реакция 16О(n, p)16N. В мишенях с большой дозовой нагрузкой при деформации входного окна мишени протекают ядерные реакции, индуцированные протонами, 14N(p, α)11C и 18О(p, n)18F. Образующиеся в результате этих реакций фторид 18F−, карбонат 11CО23- и H11CO3-гидрокарбонат анионы в процессе циркуляции воды по контуру охлаждения осаждаются на ионно-обменной смоле. Установлено, что среднегодовая дозовая нагрузка оператора циклотрона от продуктов активации воды в контуре охлаждения не превышает 1% от предельной годовой дозы персонала. Даны рекомендации по использованию инженерных барьеров на случай течей воды из контура охлаждения циклотрона при проектировании и реконструкции объектов ядерной медицины. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Москва : МАИК | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Активация воды контура охлаждения циклотрона Cyclone 18/9 HC при наработке 18F | ru |
| dc.type | article | ru |
| dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
| dc.identifier.DOI | 10.1134/S2079562918040024 | - |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники (статьи) | |
Полный текст документа:
Нет файлов, ассоциированных с этим документом.
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.

