Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223540
Title: Рекомбинационные свойства кремния, облученного ионами гелия
Authors: Тарасик, М. И.
Петлицкий, А. Н.
Соловьев, Я. А.
Федотов, А. К.
Янченко, А. М.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2008
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. III Междунар. науч. конф., Минск, 25-26 сент. 2008 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск : БГУ, 2008. - С. 185-187
Abstract: В современных технологиях создания СБИС и оптоэлектронных полупровод­никовых приборов наблюдается тенденция использования ионной имплантации примесей, не относящихся к легирующим. Интересными для промышленного при­менения являются методы создания внутреннего геттерирующего слоя, основанные на внедрении ионов Н+ и Не+ со средними дозами.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/223540
ISBN: 978-985-518-091-4
Appears in Collections:2008. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
185-187.pdf527,65 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.