Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/202694Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Муратов, Т. Т. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-08-04T12:44:04Z | - |
| dc.date.available | 2018-08-04T12:44:04Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Журнал Белорусского государственного университета. Физика = Journal of the Belarusian State University. Physics. - 2018. - № 2. - С. 117-124 | ru |
| dc.identifier.issn | 2520-2243 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/202694 | - |
| dc.description.abstract | Анализируется возможность значительной локализации двумерного электронного газа на поверхности сильнолегированного полупроводника. Получена аналитическая формула для среднего сечения низкоэнергетического рассеяния приповерхностных электронов с учетом функции распределения Ферми – Дирака. Отмечается существенная особенность точки EF = 0 в квазидвумерных электронных системах, в отличие от их трехмерных аналогов. На основе правила Иоффе – Регеля и полученной формулы для среднего сечения рассеяния найден более точный, реалистичный критерий сильной локализации, чем тот, который был определен в других цитируемых работах. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Уточнение критерия сильной локализации электронов на поверхности полупроводника | ru |
| dc.title.alternative | Refinement of the criterion for strong localization of electrons on a semiconductor surface / T. T. Muratov | ru |
| dc.type | article | en |
| dc.description.alternative | Possibility of strong localization of the two-dimensional electron gas on the surface of the highly doped semiconductor is analyzed. Analytical formula for cross-section of low-energy scattering of surface electrons with take into account Fermi – Dirac’s distribution was obtained. Is noted about substantial feature of the point EF = 0 in quasi two-dimensional electrons systems than in its three-dimensional analogs. On the basis of Ioffe – Regel’s rule and formula obtained for average cross-section of scattering more precise realistic criterion of strong localization was obtained than it which has been obtained in other quoted articles. | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2018, №2 | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 117-124.pdf | 1,82 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.