Logo BSU

Search


Current filters:


Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-10 of 19 (Search time: 0.0 seconds).
Item hits:
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2017Эффекты наноструктурирования и флекинга покрытий TiCrN при облучении ионами гелияКонстантинов, С. В.; Комаров, Ф. Ф.; Стрельницкий, В. Е.
2017Моделирование воздействия гамма-излучения на биполярные транзисторыМискевич, С. А.; Комаров, Ф. Ф.; Комаров, А. Ф.; Ювченко, В. Н.; Заяц, Г. М.; Божаткин, В. А.
2017Электрофизические и оптические свойства эпоксидного полимера с добавками многостенных углеродных нанотрубокПарфимович, И. Д.; Гринченко, М. В.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Григорчук, Е. С.; Ткачев, А. Г.
2017Влияние условий синтеза и облучения высокоэнергетическими ионами ксенона на фотолюминесценцию системы «нанокластеры InAs В Si и SiO2»Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Пархоменко, И. Н.; Власукова, Л. А.; Нечаев, Н. С.; Wendler, E.
2017Исследование полиуретана наполненного углеродными наночастицамиКомаров, Ф. Ф.; Ксенофонтов, М. А.; Кривошеев, Р. М.; Островская, Л. Е.; Мильчанин, О. В.
2017Формирование нанокластеров ZnSe и ZnS в слоях SiO2 с использованием режима «горячей» имплантации примесиМоховиков, М. А.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Власукова, Л. А.; Пархоменко, И. Н.; Wendler, E.
2017Влияние добавки углерода на структуру и морфологию покрытий Ti-Al-NКлимович, И. М.; Баран, Л. В.; Королик, О. В.; Зайков, В. А.; Комаров, Ф. Ф.
2017Взаимодействие электромагнитного излучения с полимерными материалами, содержащими углеродные нанотрубкиГринченко, М. В.; Парфимович, И. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Григорчук, Е. С.; Ткачев, А. Г.
2012Исследование влияния γ-облучения на конформацию свободных радикалов в политетрафторэтиленеКомаров, Ф. Ф.; Купчишин, А. И.; Пивоваров, С. П.; Тлебаев, К. Б.; Кусаинов, А. Т.; Рухин, А. Б.; Поздеева, А. В.
2011Микро- и нанокомпозитные защитные покрытия на основе Ti−Al−N/Ni−Cr−B−Si−Fe, их структура и свойстваПогребняк, А. Д.; Дробышевская, А. А.; Береснев, В. М.; Кылышканов, М. К.; Кирик, М. К.; Дуб, С. Н.; Комаров, Ф. Ф.; Шипиленко, А. М.; Телеушев, Ю. Ж.