Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/163289| Title: | Методика электротепловой спектрометрии для исследования малых изменений теплового сопротивления полупроводниковых приборов при термоиспытаниях |
| Authors: | Бумай, Ю. А. Васьков, О. С. Кононенко, В. К. Нисс, В. С. Керенцев, А. Ф. Петлицкий, А. Н. Соловьев, Я. А. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | Минск : Изд. центр БГУ |
| Citation: | Материалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 34–37. |
| Abstract: | На основе метода тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии (ТРДС) разработана методика для исследования малых (менее 1%) изменений теплового сопротивления мощных полупроводниковых приборов. С использованием временных дифференциальных спектров тепловых сопротивлений разработаны основы метода генерации электротепловых моделей вплоть до 12-го порядка, отражающих структуру теплового сопротивления полупроводниковых приборов. Для выделения элемента структуры прибора, где происходят изменения теплового сопротивления после термоиспытаний используются разностные спектры ТРДС (разность спектров до и после термоиспытаний). |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/163289 |
| ISBN: | 978-985-553-403-8 |
| Sponsorship: | Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований. |
| Appears in Collections: | 2016. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| с.34-37_Бумай.pdf | 416,85 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.