Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/163289Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Бумай, Ю. А. | - |
| dc.contributor.author | Васьков, О. С. | - |
| dc.contributor.author | Кононенко, В. К. | - |
| dc.contributor.author | Нисс, В. С. | - |
| dc.contributor.author | Керенцев, А. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Петлицкий, А. Н. | - |
| dc.contributor.author | Соловьев, Я. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-12-19T17:35:23Z | - |
| dc.date.available | 2016-12-19T17:35:23Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 34–37. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-553-403-8 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/163289 | - |
| dc.description.abstract | На основе метода тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии (ТРДС) разработана методика для исследования малых (менее 1%) изменений теплового сопротивления мощных полупроводниковых приборов. С использованием временных дифференциальных спектров тепловых сопротивлений разработаны основы метода генерации электротепловых моделей вплоть до 12-го порядка, отражающих структуру теплового сопротивления полупроводниковых приборов. Для выделения элемента структуры прибора, где происходят изменения теплового сопротивления после термоиспытаний используются разностные спектры ТРДС (разность спектров до и после термоиспытаний). | ru |
| dc.description.sponsorship | Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : Изд. центр БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Методика электротепловой спектрометрии для исследования малых изменений теплового сопротивления полупроводниковых приборов при термоиспытаниях | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2016. Материалы и структуры современной электроники | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| с.34-37_Бумай.pdf | 416,85 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.