Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/156829| Заглавие документа: | Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra |
| Авторы: | Tivanov, M. S. Kaputskaya, I. A. Patryn, A. A. Saad, A. M. Survilo, L. Ostretsov, E. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | авг-2016 |
| Издатель: | Society of Polish Electrical and Electronics Engineers |
| Библиографическое описание источника: | Electrical Review. - 2016. - Vol. 92, № 9. - P. 88 - 90 |
| Аннотация: | A method for determining the band gap value and the refractive index near the absorption edge from reflection spectra was tested for CdSxSe1-x films prepared using the screen-printing and sintering technique. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/156829 |
| ISSN: | 0033-2097 |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra.pdf | 244,76 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.