Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/156829Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Tivanov, M. S. | - |
| dc.contributor.author | Kaputskaya, I. A. | - |
| dc.contributor.author | Patryn, A. A. | - |
| dc.contributor.author | Saad, A. M. | - |
| dc.contributor.author | Survilo, L. | - |
| dc.contributor.author | Ostretsov, E. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-09-28T09:28:59Z | - |
| dc.date.available | 2016-09-28T09:28:59Z | - |
| dc.date.issued | 2016-08 | - |
| dc.identifier.citation | Electrical Review. - 2016. - Vol. 92, № 9. - P. 88 - 90 | ru |
| dc.identifier.issn | 0033-2097 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/156829 | - |
| dc.description.abstract | A method for determining the band gap value and the refractive index near the absorption edge from reflection spectra was tested for CdSxSe1-x films prepared using the screen-printing and sintering technique. | ru |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.publisher | Society of Polish Electrical and Electronics Engineers | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra | ru |
| dc.type | article | ru |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra.pdf | 244,76 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.