Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/156829
Заглавие документа: Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra
Авторы: Tivanov, M.
Kaputskaya, I.
Patryn, A.
Saad, A.
Survilo, L.
Ostretsov, E.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: авг-2016
Издатель: Society of Polish Electrical and Electronics Engineers
Библиографическое описание источника: Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra / M.Tivanov, I.Kaputskaya, A.Patryn, A.Saad, L.Survilo, E.Ostretsov // Electrical Review. - 2016. - Vol. 92, № 9. - P. 88 - 90
Аннотация: A method for determining the band gap value and the refractive index near the absorption edge from reflection spectra was tested for CdSxSe1-x films prepared using the screen-printing and sintering technique.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/156829
ISSN: 0033-2097
Располагается в коллекциях:Статьи сотрудников физического факультета

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra.pdf244,76 kBAdobe PDFОткрыть


Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.