Исследование ориентационной зависимости дифракционной эффективности голограмм в Bi12SiO20 при различных толщинах кристалла.

Макаревич, А. В.; Шепелевич, В. В.; Проц, О. Н.; Пиляк, К. Ю.; Ропот, П. И.

Issue Date Author Title Subject

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/133667

Title:	Исследование ориентационной зависимости дифракционной эффективности голограмм в Bi12SiO20 при различных толщинах кристалла.
Authors:	Макаревич, А. В. Шепелевич, В. В. Проц, О. Н. Пиляк, К. Ю. Ропот, П. И.
Keywords:	ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
Issue Date:	2015
Publisher:	Минск : РИВШ
Citation:	Квантовая электроника: Материалы X Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 9–13 нояб. 2015 г. – Минск, 2015. – С. 24-25.
Abstract:	Показано совпадение теоретических и экспериментальных данных о зависимостях дифракционной эффективности голограмм η от ориентационного угла θ кристалла BSO для двух выбранных значений толщины.
URI:	http://elib.bsu.by/handle/123456789/133667
ISBN:	978-985-500-903-1
Sponsorship:	Министерство образования РБ (задание 2.2.18 ГПНИ «Электроника и фотоника») и БРФФИ (проект Ф15-154), а также Минобрнауки РФ в рамках базовой части Госзадания на 2015 год.
Appears in Collections:	2015. Квантовая электроника

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
024_Makarevich.pdf		479,36 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar