Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/133667Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Макаревич, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Шепелевич, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Проц, О. Н. | - |
| dc.contributor.author | Пиляк, К. Ю. | - |
| dc.contributor.author | Ропот, П. И. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-01-04T08:02:08Z | - |
| dc.date.available | 2016-01-04T08:02:08Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Квантовая электроника: Материалы X Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 9–13 нояб. 2015 г. – Минск, 2015. – С. 24-25. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-500-903-1 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/133667 | - |
| dc.description.abstract | Показано совпадение теоретических и экспериментальных данных о зависимостях дифракционной эффективности голограмм η от ориентационного угла θ кристалла BSO для двух выбранных значений толщины. | ru |
| dc.description.sponsorship | Министерство образования РБ (задание 2.2.18 ГПНИ «Электроника и фотоника») и БРФФИ (проект Ф15-154), а также Минобрнауки РФ в рамках базовой части Госзадания на 2015 год. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : РИВШ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника | ru |
| dc.title | Исследование ориентационной зависимости дифракционной эффективности голограмм в Bi12SiO20 при различных толщинах кристалла. | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2015. Квантовая электроника | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 024_Makarevich.pdf | 479,36 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.