Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/133667| Заглавие документа: | Исследование ориентационной зависимости дифракционной эффективности голограмм в Bi12SiO20 при различных толщинах кристалла. |
| Авторы: | Макаревич, А. В. Шепелевич, В. В. Проц, О. Н. Пиляк, К. Ю. Ропот, П. И. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Дата публикации: | 2015 |
| Издатель: | Минск : РИВШ |
| Библиографическое описание источника: | Квантовая электроника: Материалы X Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 9–13 нояб. 2015 г. – Минск, 2015. – С. 24-25. |
| Аннотация: | Показано совпадение теоретических и экспериментальных данных о зависимостях дифракционной эффективности голограмм η от ориентационного угла θ кристалла BSO для двух выбранных значений толщины. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/133667 |
| ISBN: | 978-985-500-903-1 |
| Финансовая поддержка: | Министерство образования РБ (задание 2.2.18 ГПНИ «Электроника и фотоника») и БРФФИ (проект Ф15-154), а также Минобрнауки РФ в рамках базовой части Госзадания на 2015 год. |
| Располагается в коллекциях: | 2015. Квантовая электроника |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 024_Makarevich.pdf | 479,36 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.