Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/125592| Title: | Физика отказов полупроводниковых приборов и интегральных схем : пособие / В. М. Борздов, В. М. Молофеев, А. Н. Сетун |
| Authors: | Борздов, Владимир Михайлович Молофеев, Вячеслав Михайлович Сетун, Александр Николаевич |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | Минск : БГУ |
| Abstract: | В пособии рассматриваются фундаментальные физико-химические процессы, приводящие к деградации параметров и внезапным отказам полупроводниковых приборов и интегральных микросхем при различных условиях эксплуатации. Излагаются методы расчета и прогнозирования количественных показателей надежности изделий микро- и наноэлектроники, моделирования отказов микро- и наноэлектронных структур и процессов деградации электрофизических параметров в этих структурах, а также физические основы ускоренных испытаний. Для студентов учреждения высшего образования, обучающихся по специальностям 1-31 04 02 «Радиофизика» и 1-31 04 03 «Физическая электроника». |
| Description: | Полный текст документа доступен из сети БГУ. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/125592 |
| ISBN: | 978-985-566-170-3 |
| Presence of a mark: | Гриф УМО БГУ |
| Appears in Collections: | Кафедра физической электроники и нанотехнологий (пособия) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Borzdov-Rabochy-A5.pdf | 2,13 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.