Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elib.bsu.by/handle/123456789/125592
Title: Физика отказов полупроводниковых приборов и интегральных схем : пособие / В. М. Борздов, В. М. Молофеев, А. Н. Сетун
Authors: Борздов, Владимир Михайлович
Молофеев, Вячеслав Михайлович
Сетун, Александр Николаевич
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
Issue Date: 2015
Publisher: Минск : БГУ
Abstract: В пособии рассматриваются фундаментальные физико-химические процессы, приводящие к деградации параметров и внезапным отказам полупроводниковых приборов и интегральных микросхем при различных условиях эксплуатации. Излагаются методы расчета и прогнозирования количественных показателей надежности изделий микро- и наноэлектроники, моделирования отказов микро- и наноэлектронных структур и процессов деградации электрофизических параметров в этих структурах, а также физические основы ускоренных испытаний. Для студентов учреждения высшего образования, обучающихся по специальностям 1-31 04 02 «Радиофизика» и 1-31 04 03 «Физическая электроника».
Description: Полный текст документа доступен из сети БГУ.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/125592
ISBN: 978-985-566-170-3
Appears in Collections:Учебники и другие пособия факультета радиофизики и компьютерных технологий

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Borzdov-Rabochy-A5.pdf2,13 MBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.