Logo BSU

Search


Current filters:

Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-10 of 27 (Search time: 0.0 seconds).
Item hits:
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
May-2007Особенности прохождения быстрых протонов через диэлектрический капиллярКамышан, А. С.; Комаров, Ф. Ф.; Лагутин, А. Е.
1987Учет особенностей экранирования при описании электрон-примесного взаимодействия в ковалентных кристаллахКомаров, Ф. Ф.; Новиков, А. П.; Ань Туан Хоанг
1986Структура и электрофизические свойства кремния после имплантации сурьмы и импульсного отжига под слоем анодного окислаГайдук, П. И.; Комаров, Ф. Ф.; Соловьев, В. С.
1986Использование метода дифракции в сходящемся пучке для анализа структуры ближнего порядка тонких слоев аморфного веществаКомаров, Ф. Ф.; Корнейчик, В. В.; Тишков, В. С.
2000Аппроксимация эмиссионного тока электронов в диэлектрик затвора МОП-ПТАндреев, А. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Михей, В. Н.
Sep-2006Формирование водородо-индуцированиых дефектов и их применение в технологиях микро- и оптоэлектроникиКомаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Миронов, А. М.
Sep-2011Моделирование технологических процессов субмикронной электроники для систем проектирования интегральных схемКомаров, Ф. Ф.; Комаров, А. Ф.; Миронов, А. М.; Заяц, Г. М.; Макаревич, Ю. В.; Мискевич, С. А.
2000Формирование микропучков жесткого рентгеновского излучения при помощи преломляющей линзыДудчик, Ю. И.; Кольчевский, Н. Н.; Комаров, Ф. Ф.
1997Профили распределения внедренных в ПММА ионов индияАкимов, А. Н.; Григорьев, В. В.; Комаров, Ф. Ф.; Коньшин, И. В.; Леонтьев, А. В.; Сагайдак, Д. И.; Францкевич, А. В.
Jan-2006Применение спек­трометра POP с повышенным энергетическим разрешением для измерения профилей кон­центрации мелкозалегаюшей примеси и параметров ионных пучковБойко, Е. Б.; Камышан, А. М.; Комаров, Ф. Ф.; Лагутин, А. Е.