Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/9872| Заглавие документа: | Выявление микродефектов в монокристаллах Si методом дефект-контрастного травления : методические указания к лабораторной работе по спецкурсу «Физическая химия кристаллов полупроводников» / А. Е. Усенко, А. В. Юхневич; БГУ, Химический факультет, Кафедра физической химии |
| Авторы: | Усенко, Александра Евгеньевна Юхневич, Анатолий Викторович |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия |
| Дата публикации: | 24-мая-2012 |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/9872 |
| Располагается в коллекциях: | Малотиражная литература химического факультета |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| УсенкоЮхневич-методичка.pdf | 528,16 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.