Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/9872| Title: | Выявление микродефектов в монокристаллах Si методом дефект-контрастного травления : методические указания к лабораторной работе по спецкурсу «Физическая химия кристаллов полупроводников» / А. Е. Усенко, А. В. Юхневич; БГУ, Химический факультет, Кафедра физической химии |
| Authors: | Усенко, Александра Евгеньевна Юхневич, Анатолий Викторович |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия |
| Issue Date: | 24-May-2012 |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/9872 |
| Appears in Collections: | Малотиражная литература химического факультета |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| УсенкоЮхневич-методичка.pdf | 528,16 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

