Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/92893| Заглавие документа: | Итеративное самотестирование встроенных ОЗУ с использованием адаптивного сигнатурного анализа |
| Авторы: | Мусин, С. Б. Иванюк, А. А. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатика |
| Дата публикации: | 2009 |
| Издатель: | Минск: А.Н. Вараксин |
| Аннотация: | Рассмотрен алгоритм периодического инвертирования запоминающих элементов встроенных ОЗУ, выделенных по маске, которая формируется исходя из номера итерации алгоритма. Для сжатия тестовых реакции используется метод адаптивного сигнатурного анализа. Обеспечивается обнаружение неисправностей многократных константных неисправностей. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/92893 |
| Располагается в коллекциях: | ПРОЕКТИРОВАНИЕ ВСТРОЕННЫХ СИСТЕМ |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.