Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/92893Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Мусин, С. Б. | - |
| dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-04-01T10:29:30Z | - |
| dc.date.available | 2014-04-01T10:29:30Z | - |
| dc.date.issued | 2009 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/92893 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрен алгоритм периодического инвертирования запоминающих элементов встроенных ОЗУ, выделенных по маске, которая формируется исходя из номера итерации алгоритма. Для сжатия тестовых реакции используется метод адаптивного сигнатурного анализа. Обеспечивается обнаружение неисправностей многократных константных неисправностей. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск: А.Н. Вараксин | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатика | ru |
| dc.title | Итеративное самотестирование встроенных ОЗУ с использованием адаптивного сигнатурного анализа | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | ПРОЕКТИРОВАНИЕ ВСТРОЕННЫХ СИСТЕМ | |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.