Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/92893| Title: | Итеративное самотестирование встроенных ОЗУ с использованием адаптивного сигнатурного анализа |
| Authors: | Мусин, С. Б. Иванюк, А. А. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатика |
| Issue Date: | 2009 |
| Publisher: | Минск: А.Н. Вараксин |
| Abstract: | Рассмотрен алгоритм периодического инвертирования запоминающих элементов встроенных ОЗУ, выделенных по маске, которая формируется исходя из номера итерации алгоритма. Для сжатия тестовых реакции используется метод адаптивного сигнатурного анализа. Обеспечивается обнаружение неисправностей многократных константных неисправностей. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/92893 |
| Appears in Collections: | ПРОЕКТИРОВАНИЕ ВСТРОЕННЫХ СИСТЕМ |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.