Logo BSU

Просмотр "Статьи" Темы ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 1 - 10 из 15
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2015Acoustic response to the action of nanosecond laser pulses on an In/CdTe thin-film heterostructureVlasenko, A.I.; Veleshchuk, V.P.; Gnatyuk, V.A.; Levitskii, S.N.; Vlasenko, Z.K.; Ivlev, G.D.; Gatskevich, E.I.
2024Annealing Effect on Structural, Optical and Electrophysical Properties of ZnSe Nanocrystals Synthesized into SiO2/Si Ion Track TemplateAkylbekova, A.; Dauletbekova, A.; Baimukhanov, Z.; Vlasukova, L.A.; Usseinov, A; Saduova, N.; Akilbekov, A.T.; Pankratov, V.A.; Popov, A.I.
2006Formation of Light Emitting Iron Disilicide/Silicon Heterostructures by Means of Pulsed Ion and Laser BeamsBatalov, R. I.; Bayazitov, R. M.; Nurutdinov, R. M.; Shmagin, V. B.; Krizhkov, D. I.; Ivlev, G. D.; Gaiduk, P. I.; Dezsi, I.; Kotai, E.
2015Light emission from silicon with tin-containing nanocrystalsRoesgaard, So.; Chevallier, J.; Gaiduk, P.I.; Hansen, J.L.; Jensen, P.B.; Larsen, A.N.; Svane, A.; Balling, P.; Julsgaard, B.
2009Monte Carlo simulation of electron transport in deep submicron MOSFETs with three 40 nm gatesZhevnyak, O. G.; Borzdov, A. V.; Speransky, D. S.; Borzdov, V. M.
2007Monte Carlo study of influence of channel length and depth on electron transport in SOI MOSFETsZhevnyak, Oleg; Borzdov, V. M.; Borzdov, Andrey; Pozdnyakov, Dmitry; Komarov, F. F.
2007Temperature effect on electron transport in conventional short channel MOSFETs: Monte Carlo simulationZhevnyak, Oleg
2005Измерение атмосферного давления и температуры в рамках проекта "Электронный дом"Свороб, К. А.
2005Исследование сегрегации Gе и Sn в структуре SIO2/SIПрокопьев, С. Л.; Новиков, А. Г.; Яцко, К. В.
2005Контроль примесей при магнетронном осаждении пленочных покрытий с помощью малогабаритного спектрометраКулешов, В. Н.