Logo BSU

  1. Электронная библиотека БГУ
  2. Физический факультет
  3. НАУЧНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ ФИЗИЧЕСКОГО ФАКУЛЬТЕТА
  4. Материалы конференций физического факультета
Issue Date Author Title Subject

Search


Current filters:

Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.

 | 
Results 1-10 of 904 (Search time: 0.0 seconds).
Item hits:
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2016Свойства поверхности тыльных и лицевых контактов фотоэлектрических преобразователей, осаждаемых пассивно и при ионном ассистированииТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Бушкевич, И. А.; Бобрович, О. Г.; Ташлыков, И. С.
2016Электромагнитные отражатели на основе частотно-селективной поверхности для субметровых длин волнСягло, А. И.; Туан, Динь Ань; Кишкель, Н. В.; Широкий, Д. Н.; Поклонский, Н. А.
2016Локальные колебательные моды комплексов дивакансия – два атома кислорода и тривакансия – два атома кислорода в кремнииТолкачева, Е. А.; Мурин, Л. И.
2016Электрические потери в гетероструктурах Al/SiO2/n-Si, облученных ионами гелия с энергиями 5 МэВПоклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Во Куанг, Нья; Меркулов, В. А.; Кирикович, М. К.; Скуратов, В. А.; Kukharchyk, N.; Becker, H.-W.; Wieck, A.
2016Влияние примеси азота на закономерности формирования и термическую стабильность радиационных дефектов в монокристаллах синтетического алмазаГусаков, Г. А.; Мудрый, А. В.; Рогинец, Л. П.
2016Di-Interstitial-Oxygen Center in Silicon: Structure, Electronic Properties and Annealing BehaviorMarkevich, V. P.; Gusakov, V. E.; Lastovskii, S. B.; Murin, L. I.
2016Новые аспекты ионной имплантацииХайбуллин, Р. И.
2016Аномалии кинетики фотоотклика кристалла сегнетоэлектрика – полупроводника TlGaSe2Одринский, А. П.; Seyidov, M. H. Yu; Suleymanov, R. A.; Мамедов, Т. Г.; Алиева, В. Б.
2016Диффузионные характеристики кислородных димеров и комплексов вакансия – два атома кислорода в кремнии: данные ИК поглощенияМурин, Л. И.; Толкачева, Е. А.; Маркевич, В. П.
2016Формирование слоев полицида титана для интегральных микросхем с субмикронными проектными нормамиНаливайко, О. Ю.; Колос, В. В.; Турцевич, А. С.

Discover