Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/53836
Заглавие документа: | A switching activity reducing tecnique for the signature analyzer |
Авторы: | Murashko, I. Yarmolik, V. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Математика |
Дата публикации: | 2003 |
Издатель: | Минск, БГУ |
Аннотация: | This paper presents new solutions for reducing the power consumption of built-in self-test (BIST) environment such as signature analyzer (SA). The key idea behind this technique is based on the designing a new SA structure for compressing several test responses bits per one clock pulse. The proposed method can be used within "test-per-clock" BIST architecture, as well as may be extended for the "test-per-scan" BIST technique. |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/53836 |
Располагается в коллекциях: | Chapter 5. ARCHITECTURES FOR IMAGE PROCESSING |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.