Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/49944
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Стебленко, Л. П. | - |
dc.contributor.author | Крит, А. Н. | - |
dc.contributor.author | Курилюк, А. Н. | - |
dc.contributor.author | Якунов, А. В. | - |
dc.contributor.author | Науменко, С. Н. | - |
dc.contributor.author | Коплак, О. В. | - |
dc.date.accessioned | 2013-10-24T17:45:08Z | - |
dc.date.available | 2013-10-24T17:45:08Z | - |
dc.date.issued | 2010 | - |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., Минск, 23–24 окт. 2010 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.].— Мн.: БГУ, 2010. С. 172-175. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-985-476-885-4 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/49944 | - |
dc.description.abstract | Изучено изменения микропластических и микромеханических характеристик диамагнитных кристаллов кремния в условиях влияния магнитных полей разного происхождения. В роли индикатора и меры такого влияния нами были выбраны величины перемещения дислокаций и величина микротвердости. Для изучения динамического поведения дислокаций использовались методы четырехопорного изгиба образцов и селективного химического травления. Высказано предположение о том, что от атомарной структуры кластеров точечных дефектов, которые образуются в результате магнитоиндуцированной структурной релаксации, а также от внутрикристаллических процессов, могут сильно зависеть эффективность преодоления дислокациями примесных атмосфер, стартовые напряжения и, в конечном итоге, пробеги дислокаций. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Издательский центр БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Магнитостимулированные изменения микропластических и микромеханических характеристик кристаллов кремния | ru |
dc.type | conference paper | ru |
Располагается в коллекциях: | 2010. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Л.П. Стебленко, А.Н. Крит, А.Н. Курилюк, А.В. Якунов, С.Н. Науменко, О.В. Коплак.pdf | 176,52 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.