Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/340586
Title: Модель радиационных изменений рабочих характеристик iGBT транзисторов
Other Titles: Model of Shift of iGBT Operating Characteristics under Irradiation / Miskiewicz Sergei, Yuvchenko Vera, Komarov Fadei
Authors: Мискевич, С. А.
Ювченко, В. Н.
Комаров, Ф. Ф.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2025
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 16-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 22-25 сент. 2025 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 295-297.
Abstract: Предложена модель радиационных изменений рабочих характеристик интегральных iGBT транзисторов на кремнии. Приведены результаты расчета сдвига порогового напряжения и выходные характеристики при облучении потоком протонов с энергией до 950 кэВ и дозами до 3.7х10 15 см-2
Abstract (in another language): The model of radiation-induced changes in operating characteristics of silicon isolated-gate bipolar transistors is developed. The simulation results for the threshold voltage, output voltage-current characteristics of the iGBT under the proton irradiation (up to 950 keV, 3.7x10 15 cm-2) are shown
Description: Секция 3. Влияние излучений на структуру и свойства материалов = Section 3. Radiation Influence on the Structure and Properties of Materials
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/340586
ISSN: 2663-9939 (print)
2706-9060 (online)
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:2025. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
295-297.pdf116,31 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.