Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/340586
Заглавие документа: Модель радиационных изменений рабочих характеристик iGBT транзисторов
Другое заглавие: Model of Shift of iGBT Operating Characteristics under Irradiation / Miskiewicz Sergei, Yuvchenko Vera, Komarov Fadei
Авторы: Мискевич, С. А.
Ювченко, В. Н.
Комаров, Ф. Ф.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2025
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 16-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 22-25 сент. 2025 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 295-297.
Аннотация: Предложена модель радиационных изменений рабочих характеристик интегральных iGBT транзисторов на кремнии. Приведены результаты расчета сдвига порогового напряжения и выходные характеристики при облучении потоком протонов с энергией до 950 кэВ и дозами до 3.7х10 15 см-2
Аннотация (на другом языке): The model of radiation-induced changes in operating characteristics of silicon isolated-gate bipolar transistors is developed. The simulation results for the threshold voltage, output voltage-current characteristics of the iGBT under the proton irradiation (up to 950 keV, 3.7x10 15 cm-2) are shown
Доп. сведения: Секция 3. Влияние излучений на структуру и свойства материалов = Section 3. Radiation Influence on the Structure and Properties of Materials
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/340586
ISSN: 2663-9939 (print)
2706-9060 (online)
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2025. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
295-297.pdf116,31 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.