Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/339864| Заглавие документа: | Голографические методы управления световыми полями и диагностики полупроводниковых материалов |
| Авторы: | Толстик, А. Л. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2025 |
| Библиографическое описание источника: | Материалы Международной научно-практической конференции по оптике и теоретической физике, посвященная 80-летию со дня рождения профессора Шепелевича Василия Васильевича (27–28 марта 2025 г., Мозырь). – Мозырь: МГПУ им. И.П. Шамякина, 2025. – С. 73–77 |
| Аннотация: | Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований голографи- ческих методов управления световыми пучками и диагностики материалов современной фотоники и электроники. Рассмотрен нелинейно-оптический подход, позволяющий описать трансформацию волнового фронта световых пучков, в том числе сингулярных, мультиплексирование топологи- ческого заряда, а также частотное преобразование изображений. Проанализированы методы диагностики объемных и тонкопленочных полупроводников, фоторефрактивных кристаллов на основе динамических голограмм. |
| URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/339864 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра лазерной физики и спектроскопии (статьи) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Толстик Междунар. научно-практич. конф.по оптике 73-77.pdf | 842,31 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.

