Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/339864| Title: | Голографические методы управления световыми полями и диагностики полупроводниковых материалов |
| Authors: | Толстик, А. Л. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2025 |
| Citation: | Материалы Международной научно-практической конференции по оптике и теоретической физике, посвященная 80-летию со дня рождения профессора Шепелевича Василия Васильевича (27–28 марта 2025 г., Мозырь). – Мозырь: МГПУ им. И.П. Шамякина, 2025. – С. 73–77 |
| Abstract: | Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований голографи- ческих методов управления световыми пучками и диагностики материалов современной фотоники и электроники. Рассмотрен нелинейно-оптический подход, позволяющий описать трансформацию волнового фронта световых пучков, в том числе сингулярных, мультиплексирование топологи- ческого заряда, а также частотное преобразование изображений. Проанализированы методы диагностики объемных и тонкопленочных полупроводников, фоторефрактивных кристаллов на основе динамических голограмм. |
| URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/339864 |
| Licence: | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess |
| Appears in Collections: | Кафедра лазерной физики и спектроскопии (статьи) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Толстик Междунар. научно-практич. конф.по оптике 73-77.pdf | 842,31 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

