Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/339864Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Толстик, А. Л. | - |
| dc.date.accessioned | 2026-01-10T21:52:19Z | - |
| dc.date.available | 2026-01-10T21:52:19Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Материалы Международной научно-практической конференции по оптике и теоретической физике, посвященная 80-летию со дня рождения профессора Шепелевича Василия Васильевича (27–28 марта 2025 г., Мозырь). – Мозырь: МГПУ им. И.П. Шамякина, 2025. – С. 73–77 | ru |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/339864 | - |
| dc.description.abstract | Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований голографи- ческих методов управления световыми пучками и диагностики материалов современной фотоники и электроники. Рассмотрен нелинейно-оптический подход, позволяющий описать трансформацию волнового фронта световых пучков, в том числе сингулярных, мультиплексирование топологи- ческого заряда, а также частотное преобразование изображений. Проанализированы методы диагностики объемных и тонкопленочных полупроводников, фоторефрактивных кристаллов на основе динамических голограмм. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Голографические методы управления световыми полями и диагностики полупроводниковых материалов | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра лазерной физики и спектроскопии (статьи) | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Толстик Междунар. научно-практич. конф.по оптике 73-77.pdf | 842,31 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.