Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329603
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorБосак, Н. А.
dc.contributor.authorБушинский, М. В.
dc.contributor.authorЧобот, А. Н.
dc.contributor.authorБаран, Л. В.
dc.contributor.authorМалютина-Бронская, В. В.
dc.contributor.authorТаратын, И. А.
dc.date.accessioned2025-05-22T14:49:18Z-
dc.date.available2025-05-22T14:49:18Z-
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 31-36.
dc.identifier.isbn978-985-881-739-8
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/329603-
dc.descriptionСвойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
dc.description.abstractМетодом высокочастотного импульсно-периодического f ~ 10–12 кГц воздействия лазерного излучения с длиной волны λ = 1,064 мкм и плотностью мощности q = 33 МВт/см2 на пьезокерамику ЦТС-19 (цирконат-титанат свинца) при давлении в вакуумной камере p = 2,2×10−2 мм рт. ст. получены наноструктурированные тонкие пленки на кремниевой и стеклянной подложках. Изучена морфология поверхности тонких пьезокермических пленок с помощью атомно-силовой микроскопии. Исследованы спектры пропускания пленок в видимой, ближней и средней ИК-области. Проведен анализ электрофизических свойств структуры ЦТС-19/Si на кремниевой подложке
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleМорфология поверхности, оптические и электрофизические свойства пьезокерамических пленок
dc.title.alternativeSurface morphology, optical and electrophysical properties of piezoceramic films / N. A. Bosak, M. V. Bushinsky, A. N. Chobot, L. V. Baran, V. V. Malyutina-Bronskaya, I. A. Taratyn
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeBy the method of high-frequency repetitively pulsed f ~ 10–12 kHz laser radiation with a wavelength λ = 1.064 μm and a power density q = 33 MW/cm2 on the piezoceramics PZT-19 target at a pressure in the vacuum chamber p = 2.2×10−2 mm Hg Art nanostructured thin films on a silicon and glass substrates have been obtained. The morphology of thin piezoceramics films was studied using atomic force microscopy. Transmission spectra of the PZT films in the visible, near and mid-IR regions were investigated. The electrophysical characteristics of piezoceramics structure on a silicon substrate was carried out
Располагается в коллекциях:2024. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
31-36.pdf589,63 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.