Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329585
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМискевич, С. А.
dc.contributor.authorКомаров, Ф. Ф.
dc.contributor.authorЮвченко, В. Н.
dc.date.accessioned2025-05-22T14:49:14Z-
dc.date.available2025-05-22T14:49:14Z-
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 300-303.
dc.identifier.isbn978-985-881-739-8
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/329585-
dc.descriptionДефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
dc.description.abstractРазработана физико-математическая модель и представлены результаты моделирования воздействия потока электронов с энергией 2–4 МэВ и дозами до 10 15 см-2 на входные и выходные вольт-амперные характеристики (ВАХ), а также коэффициент усиления p–n–p-биполярного транзистора КТ3107А
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleФункционирование биполярных транзисторных структур на кремнии в условиях радиационного облучения
dc.title.alternativeOperating of silicon bipolar junction transistors under the irradiation / S. A. Miskiewicz, F. F. Komarov, V. N. Yuvchenko
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeThe model of radiation impact of the electron flux (2–4 MeV, up to 10 15 cm-2) on the bipolar junction transistors (BJT) is developed and the results of computer simulation of the input and output current-voltage characteristics and current gain are shown
Располагается в коллекциях:2024. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
300-303.pdf360,93 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.