Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/32008| Title: | Исследование методами электронной сканирующей микроскопии поверхностной структуры голографических дифракционных решеток при различных условиях экспонирования и обработки |
| Authors: | Дробот, И. Л. Рубанов, А. С. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Issue Date: | 2000 |
| Publisher: | БГУ |
| Citation: | Квантовая электроника |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/32008 |
| Appears in Collections: | 2000. Квантовая электроника |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.