Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/32008
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Дробот, И. Л. | - |
dc.contributor.author | Рубанов, А. С. | - |
dc.date.accessioned | 2013-02-06T11:57:22Z | - |
dc.date.available | 2013-02-06T11:57:22Z | - |
dc.date.issued | 2000 | - |
dc.identifier.citation | Квантовая электроника | ru |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/32008 | - |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника | ru |
dc.title | Исследование методами электронной сканирующей микроскопии поверхностной структуры голографических дифракционных решеток при различных условиях экспонирования и обработки | ru |
Appears in Collections: | 2000. Квантовая электроника |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.