Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/305476
Title: Влияние наносекундной импульсной лазерной обработки на электрофизические характеристики слоев Ti и Ni на стекле
Other Titles: Influence of nanosecond pulsed laser processing on the electrophysical characteristics of Ti and Ni layers on glass / M. V. Labanok, S. S. Grinko, A. A. Grinkevich, O. R. Lyudchik
Authors: Лобанок, М. В.
Гринько, С. С.
Гринкевич, А. А.
Людчик, О. Р.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2023
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Квантовая электроника : материалы XIV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 21-23 нояб. 2023 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: М. М. Кугейко (гл. ред.), А. А. Афоненко, А. В. Баркова. – Минск : БГУ, 2023. – С. 399-402.
Abstract: Представлены результаты измерения слоевого сопротивления и морфологии слоев Ti и Ni (500 нм), сформированных на стеклянных подложках методом магнетронного распыления и облученных наносекундными (~ 60 нс) импульсами Nd:YAG лазера с плотностью энергии W = 0.64−1.3 Дж/см2. Показано, что увеличение плотности энергии лазерного облучения приводит к изменению слоевого сопротивления и оптических характеристик слоев Ti и Ni
Abstract (in another language): The results of measuring the layer resistance and morphology of Ti and Ni layers (500 nm) formed on glass substrates by magnetron sputtering and irradiated with nanosecond (~ 60 ns) Nd:YAG laser pulses with an energy density W = 0.64−1.3 J/cm2 are presented. It has been shown that an increase in the energy density of laser irradiation leads to a change in the layer resistance and optical characteristics of the Ti and Ni layers
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/305476
ISBN: 978-985-881-530-1
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:2023. Квантовая электроника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
399-402.pdf1,63 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.