Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/305427| Title: | Экспресс контроль смещения диаграммы направленности излучения полупроводниковых лазеров |
| Other Titles: | Express control of the radiation pattern displacement of semiconductor Lasers / V. M. Stetsik, E. A. Lebedeva |
| Authors: | Стецик, В. М. Лебедева, Е. А. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2023 |
| Publisher: | Минск : БГУ |
| Citation: | Квантовая электроника : материалы XIV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 21-23 нояб. 2023 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: М. М. Кугейко (гл. ред.), А. А. Афоненко, А. В. Баркова. – Минск : БГУ, 2023. – С. 215-218. |
| Abstract: | В работе представлен способ определения изменения диаграммы направленности излучения, применимый для полупроводниковых лазеров. Данный способ заключается в измерении интенсивности излучения, возникающего под действием пилообразного тока накачки, в различных участках диаграммы направленности фотоприемником небольших размеров. При этом фотоприемник измеряет интенсивность на небольшом участке диаграммы направленности. Это позволяет за короткий промежуток времени оценить направление смещения диаграммы направленности |
| Abstract (in another language): | The paper presents a method for determining changes in the radiation pattern applicable to semiconductor lasers. This method consists in measuring the intensity of radiation arising under the action of a sawtooth pump current in various sections of the radiation pattern with a small photodetector. In this case, the photodetector measures the intensity on a small area of the radiation pattern. This makes it possible to estimate the direction of displacement of the directional pattern in a short period of time |
| URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/305427 |
| ISBN: | 978-985-881-530-1 |
| Licence: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Appears in Collections: | 2023. Квантовая электроника |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 215-218.pdf | 1,78 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.