Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/305427
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСтецик, В. М.
dc.contributor.authorЛебедева, Е. А.
dc.date.accessioned2023-12-01T07:25:30Z-
dc.date.available2023-12-01T07:25:30Z-
dc.date.issued2023
dc.identifier.citationКвантовая электроника : материалы XIV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 21-23 нояб. 2023 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: М. М. Кугейко (гл. ред.), А. А. Афоненко, А. В. Баркова. – Минск : БГУ, 2023. – С. 215-218.
dc.identifier.isbn978-985-881-530-1
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/305427-
dc.description.abstractВ работе представлен способ определения изменения диаграммы направленности излучения, применимый для полупроводниковых лазеров. Данный способ заключается в измерении интенсивности излучения, возникающего под действием пилообразного тока накачки, в различных участках диаграммы направленности фотоприемником небольших размеров. При этом фотоприемник измеряет интенсивность на небольшом участке диаграммы направленности. Это позволяет за короткий промежуток времени оценить направление смещения диаграммы направленности
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleЭкспресс контроль смещения диаграммы направленности излучения полупроводниковых лазеров
dc.title.alternativeExpress control of the radiation pattern displacement of semiconductor Lasers / V. M. Stetsik, E. A. Lebedeva
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeThe paper presents a method for determining changes in the radiation pattern applicable to semiconductor lasers. This method consists in measuring the intensity of radiation arising under the action of a sawtooth pump current in various sections of the radiation pattern with a small photodetector. In this case, the photodetector measures the intensity on a small area of the radiation pattern. This makes it possible to estimate the direction of displacement of the directional pattern in a short period of time
Располагается в коллекциях:2023. Квантовая электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
215-218.pdf1,78 MBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.