Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/297061| Title: | Голографический метод температурных измерений полупроводниковых приборов и интегральных схем |
| Authors: | Николаеня, А. З. Шулаков, В. А. Голикова, Н. А. Колесник, И. И. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 1983 |
| Publisher: | Минск : Издательство БГУ имени В. И. Ленина |
| Citation: | Вестник Белорусского государственного университета имени В. И. Ленина. Сер. 1, Физика. Математика. Механика. – 1983. – № 2. – С. 3-6. |
| URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/297061 |
| ISSN: | 0321-0367 |
| Licence: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Appears in Collections: | 1983, №2 (май) |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.