Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/297061
Заглавие документа: Голографический метод температурных измерений полупроводниковых приборов и интегральных схем
Авторы: Николаеня, А. З.
Шулаков, В. А.
Голикова, Н. А.
Колесник, И. И.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 1983
Издатель: Минск : Издательство БГУ имени В. И. Ленина
Библиографическое описание источника: Вестник Белорусского государственного университета имени В. И. Ленина. Сер. 1, Физика. Математика. Механика. – 1983. – № 2. – С. 3-6.
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/297061
ISSN: 0321-0367
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:1983, №2 (май)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
3-6.pdf301,96 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.