Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/297061
Заглавие документа: | Голографический метод температурных измерений полупроводниковых приборов и интегральных схем |
Авторы: | Николаеня, А. З. Шулаков, В. А. Голикова, Н. А. Колесник, И. И. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 1983 |
Издатель: | Минск : Издательство БГУ имени В. И. Ленина |
Библиографическое описание источника: | Вестник Белорусского государственного университета имени В. И. Ленина. Сер. 1, Физика. Математика. Механика. – 1983. – № 2. – С. 3-6. |
URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/297061 |
ISSN: | 0321-0367 |
Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Располагается в коллекциях: | 1983, №2 (май) |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.