Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/292841
Title: Влияние ультрафиолетового излучения на парамагнетизм модифицированной ионами азота и отожженной в процессе БТО пленки диоксида кремния
Other Titles: Effect of ultraviolet radiation on the paramagnetism of a silica film modified by nitrogen ions and annealed in the BTO process / A. N. Oleshkevich, V. B. Odzhaev, V. S. Prosolovich, T. M. Lapchuk, N. M. Lapchuk
Authors: Олешкевич, А. Н.
Оджаев, В. Б.
Просолович, В. С.
Лапчук, Т. М.
Лапчук, Н. М.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2022
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 283-286.
Abstract: Анализировались спектры ЭПР кремниевого образца с пленкой диоксида кремния, имплантированной ионами азота с энергией 40 кэВ и дозой 1×10 15 см−2 , с последующим процессом БТО при Т = 1050 °С в течение 15 с на воздухе, до и после облучения УФ излучением. Исследовалась стабильность модифицированного поверхностного слоя кремния к воздействию ультрафиолетового излучения с длиной волны 254 нм
Abstract (in another language): The EPR spectra of a silicon sample with a silicon dioxide film implanted with nitrogen ions with an energy of 40 keV and a dose of 1×10 15 cm−2 were analyzed, followed by a RTA process at T = 1050 °C for 15 s in air, before and after UV irradiation. The stability of the modified surface layer of silicon to the action of ultraviolet radiation with a wavelength of 254 nm was studied
Description: Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/292841
ISBN: 978-985-881-440-3
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:2022. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
283-286.pdf485,6 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.