Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/292840
Title: | Фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия кристалла TlGaSe2, легированного алюминием |
Other Titles: | Photoinduced current transient spectroscopy of TlGaSe2 crystal doped by aluminium / A. P. Odrinsky |
Authors: | Одринский, А. П. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Issue Date: | 2022 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Citation: | Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 279-282. |
Abstract: | Метод фотоэлектрической релаксационной спектроскопии (PICTS) использован для исследования процессов делокализации заряда в 2D-структурированном монокристалле сегнетоэлектрика-полупроводника TlGaSe2:Al. Обнаружено семь процессов делокализации заряда. Сравнением с результатами ранних исследований на нелегированном кристалле установлено четыре процесса предположительно связанные с введением примеси алюминия |
Abstract (in another language): | Photo-induced current transient spectroscopy (PICTS) technique is applied for studying the processes of charge delocalization in 2D-structured single crystal of TlGaSe2:Al ferroelectric-semiconductor. The seven delocalization processes are recognized. That was compared with results of early researches on undoped crystal of TlGaSe2. It is established four processes presumably connected with introduction of the aluminium impurity |
Description: | Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках |
URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/292840 |
ISBN: | 978-985-881-440-3 |
Sponsorship: | Работа выполнена при частичной финансовой поддержке Белорусского республиканского фонда фундаментальных исследований, грант №Ф22-127 |
Licence: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Appears in Collections: | 2022. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
279-282.pdf | 618,83 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.