Исследование солнечных элементов и солнечных модулей с использованием тепловизионных инфракрасных камер

Нестерёнок, А. В.; Конойко, А. И.; Малютина-Бронская, В. В.; Сенькевич, Д. В.

Issue Date Author Title Subject

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/292812

Title:	Исследование солнечных элементов и солнечных модулей с использованием тепловизионных инфракрасных камер
Other Titles:	Infrared cameras for investigation of solar cells and solar modules / A. V. Nesterenok, A. I. Konoiko, V. V. Malyutina-Bronskaya, D. V. Senkevich
Authors:	Нестерёнок, А. В. Конойко, А. И. Малютина-Бронская, В. В. Сенькевич, Д. В.
Keywords:	ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date:	2022
Publisher:	Минск : БГУ
Citation:	Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 152-157.
Abstract:	Представлена бесконтактная методика использования тепловизионной инфракрасной камеры для тестирования солнечных элементов (СЭ) и модулей. Данная методика позволяет оценивать деградацию параметров СЭ по анализу областей локального перегрева в местах дефектов, распределенных по площади. К таким дефектам, трудно определяемыми визуальными и электрическими методами контроля, относятся: расслоение, трещины, деградация пассивации, светоиндуцированная деградация, коррозия припоя, выход из строя контактных площадок или влажностная коррозия
Abstract (in another language):	A non-contact technique for using the infrared (IR) camera for testing solar cells (SC) and modules is presented. This technique makes it possible to evaluate the degradation of SC parameters by analyzing the areas of local overheating in the places of defects distributed over the area. Such defects (which are difficult to determine by visual and electrical methods of control), include delamination, cracks, passivation degradation, light-induced degradation, solder corrosion, contact pad failure or moisture corrosion
Description:	Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
URI:	https://elib.bsu.by/handle/123456789/292812
ISBN:	978-985-881-440-3
Licence:	info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:	2022. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
152-157.pdf		1,24 MB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar