Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/292812| Заглавие документа: | Исследование солнечных элементов и солнечных модулей с использованием тепловизионных инфракрасных камер |
| Другое заглавие: | Infrared cameras for investigation of solar cells and solar modules / A. V. Nesterenok, A. I. Konoiko, V. V. Malyutina-Bronskaya, D. V. Senkevich |
| Авторы: | Нестерёнок, А. В. Конойко, А. И. Малютина-Бронская, В. В. Сенькевич, Д. В. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2022 |
| Издатель: | Минск : БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 152-157. |
| Аннотация: | Представлена бесконтактная методика использования тепловизионной инфракрасной камеры для тестирования солнечных элементов (СЭ) и модулей. Данная методика позволяет оценивать деградацию параметров СЭ по анализу областей локального перегрева в местах дефектов, распределенных по площади. К таким дефектам, трудно определяемыми визуальными и электрическими методами контроля, относятся: расслоение, трещины, деградация пассивации, светоиндуцированная деградация, коррозия припоя, выход из строя контактных площадок или влажностная коррозия |
| Аннотация (на другом языке): | A non-contact technique for using the infrared (IR) camera for testing solar cells (SC) and modules is presented. This technique makes it possible to evaluate the degradation of SC parameters by analyzing the areas of local overheating in the places of defects distributed over the area. Such defects (which are difficult to determine by visual and electrical methods of control), include delamination, cracks, passivation degradation, light-induced degradation, solder corrosion, contact pad failure or moisture corrosion |
| Доп. сведения: | Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе |
| URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/292812 |
| ISBN: | 978-985-881-440-3 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Располагается в коллекциях: | 2022. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 152-157.pdf | 1,24 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.