Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/292809
Title: | Оптические характеристики пленок теллурида кадмия, полученных методом термического испарения в квазизамкнутом объме |
Other Titles: | Optical characteristics of cadmium telluride films produced by thermal evaporation in a quasi-closed volume / A. T. Akobirova, V. I. Golovchuk, M. G. Lukashevich, A. V. Mudryy, V. D. Zhivul'ko, N. S. Sultonov |
Authors: | Акобирова, А. Т. Головчук, В. И. Лукашевич, М. Г. Мудрый, А. В. Живулько, В. Д. Султонов, Н. С. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Issue Date: | 2022 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Citation: | Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 13-18. |
Abstract: | Методами оптической спектроскопии (отражение, пропускание и фотолюменисценция) проведена характеризация пленок теллурида кадмия, полученных на разных подложках методом термического испарения в квазизамкнутом объеме. Показано, что наилучшее структурное совершенство имеют пленки, выращенные на подложках из того же материала. Установлено, что экситонные полосы фотолюминесценции смещаются в длинноволновую область в зависимости от структурного совершенства подложки. Область прозрачности сколотых пленок вследствие рассеяния света из-за шероховатости поверхности и «хвостов» плотности состояний смещается в длинноволновую область |
Abstract (in another language): | Optical spectroscopy (reflection, transmission, and photoluminescence) is used to characterize cadmium telluride films obtained on different substrates by thermal evaporation in a quasi-closed volume. It is shown that films grown on substrates of the same material have the best structural perfection. It has been established that the exciton photoluminescence bands are shifted to the long wavelength region, depending on the structural perfection of the substrate. The transparency region of cleaved films shifts to the long wavelength region due to light scattering because of surface roughness and “tails” of the density of states |
Description: | Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе |
URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/292809 |
ISBN: | 978-985-881-440-3 |
Licence: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Appears in Collections: | 2022. Материалы и структуры современной электроники |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.