Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/292809
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorАкобирова, А. Т.
dc.contributor.authorГоловчук, В. И.
dc.contributor.authorЛукашевич, М. Г.
dc.contributor.authorМудрый, А. В.
dc.contributor.authorЖивулько, В. Д.
dc.contributor.authorСултонов, Н. С.
dc.date.accessioned2023-01-26T10:06:54Z-
dc.date.available2023-01-26T10:06:54Z-
dc.date.issued2022
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 13-18.
dc.identifier.isbn978-985-881-440-3
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/292809-
dc.descriptionСвойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
dc.description.abstractМетодами оптической спектроскопии (отражение, пропускание и фотолюменисценция) проведена характеризация пленок теллурида кадмия, полученных на разных подложках методом термического испарения в квазизамкнутом объеме. Показано, что наилучшее структурное совершенство имеют пленки, выращенные на подложках из того же материала. Установлено, что экситонные полосы фотолюминесценции смещаются в длинноволновую область в зависимости от структурного совершенства подложки. Область прозрачности сколотых пленок вследствие рассеяния света из-за шероховатости поверхности и «хвостов» плотности состояний смещается в длинноволновую область
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleОптические характеристики пленок теллурида кадмия, полученных методом термического испарения в квазизамкнутом объме
dc.title.alternativeOptical characteristics of cadmium telluride films produced by thermal evaporation in a quasi-closed volume / A. T. Akobirova, V. I. Golovchuk, M. G. Lukashevich, A. V. Mudryy, V. D. Zhivul'ko, N. S. Sultonov
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeOptical spectroscopy (reflection, transmission, and photoluminescence) is used to characterize cadmium telluride films obtained on different substrates by thermal evaporation in a quasi-closed volume. It is shown that films grown on substrates of the same material have the best structural perfection. It has been established that the exciton photoluminescence bands are shifted to the long wavelength region, depending on the structural perfection of the substrate. The transparency region of cleaved films shifts to the long wavelength region due to light scattering because of surface roughness and “tails” of the density of states
Располагается в коллекциях:2022. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
13-18.pdf709,15 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.