Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/290557| Заглавие документа: | Импульсная голографическая запись и диагностика объемных и тонкопленочных полупроводников методом динамических решеток |
| Авторы: | Толстик, А. Л. Ивакин, Е. В. Даденков, И. Г. Станкевич, А. А. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2022 |
| Библиографическое описание источника: | XIX международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям (20 – 22 сентября 2022, Санкт–Петербург): Тезисы докладов 2022 – С. 349–352. |
| Аннотация: | В работе продемонстрированы преимущества диагностики объемных полупроводников и тонкопленочных полупроводниковых структур методом пространственно-модуляционной спектроскопии. Метод основан на анализе кинетики процессов записи и релаксации тонких и объемных, пропускающих и отражательных динамических решеток. Показана эффективность выделения электронной и тепловой компонент нелинейности, дистанционного измерения параметров тонких (субмикронных) пленок, измерения кинетических и термооптических характеристик материалов, включая времена рекомбинации свободных носителей заряда и заселения ловушечных уровней, вклад тепловой нелинейности и коэффициент температуропроводности. |
| URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/290557 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра лазерной физики и спектроскопии (статьи) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| HOLOEXPO-2022-Tolstik_349-352.pdf | 412,67 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.