Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/290557Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Толстик, А. Л. | - |
| dc.contributor.author | Ивакин, Е. В. | - |
| dc.contributor.author | Даденков, И. Г. | - |
| dc.contributor.author | Станкевич, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2022-12-12T10:59:27Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-12T10:59:27Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | XIX международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям (20 – 22 сентября 2022, Санкт–Петербург): Тезисы докладов 2022 – С. 349–352. | ru |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/290557 | - |
| dc.description.abstract | В работе продемонстрированы преимущества диагностики объемных полупроводников и тонкопленочных полупроводниковых структур методом пространственно-модуляционной спектроскопии. Метод основан на анализе кинетики процессов записи и релаксации тонких и объемных, пропускающих и отражательных динамических решеток. Показана эффективность выделения электронной и тепловой компонент нелинейности, дистанционного измерения параметров тонких (субмикронных) пленок, измерения кинетических и термооптических характеристик материалов, включая времена рекомбинации свободных носителей заряда и заселения ловушечных уровней, вклад тепловой нелинейности и коэффициент температуропроводности. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Импульсная голографическая запись и диагностика объемных и тонкопленочных полупроводников методом динамических решеток | ru |
| dc.type | conference abstract | ru |
| dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра лазерной физики и спектроскопии (статьи) | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| HOLOEXPO-2022-Tolstik_349-352.pdf | 412,67 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.