Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/257304Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Редько, С. В. | |
| dc.contributor.author | Петрович, В. А. | |
| dc.contributor.author | Бондаренко, В. П. | |
| dc.date.accessioned | 2021-03-24T12:26:16Z | - |
| dc.date.available | 2021-03-24T12:26:16Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 206-209. | |
| dc.identifier.isbn | 978-985-881-073-3 | |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/257304 | - |
| dc.description | Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках | |
| dc.description.abstract | Традиционные методы оценки стойкости интегральных схем к воздействию импульсного ионизирующего излучения путем проведения имитирующих и моделирующих испытаний обладают недостаточной оперативностью при обеспечении требуемого уровня охвата тестовых сценариев отказов в случае современных сложных цифровых интегральных схем большой и сверхбольшой степени интеграции. В данной работе рассматриваются основные принципы выработки новых экспресс-методик оценки устойчивости интегральных схем к воздействию импульсного ионизирующего излучения на основе широкого применения систем численного моделирования и компьютерного проектирования | |
| dc.description.sponsorship | Работа выполнена в рамках задания 3.1.03 ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника», подпрограммы «Микро- и наноэлектроника» | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Экспресс-методика оценки стойкости сверхбольших интегральных схем к воздействию импульсного ионизирующего излучения | |
| dc.title.alternative | Methodolgy for rapid radiation-hardness assurance testing for ultra-large scale integrated circuits / S. V. Redko, V. A. Petrovich, V. P. Bondarenko | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | Common methods for radiation-hardness assurance testing for integrated circuits to the single-event effects by conducting imitation and simulation tests have insufficient efficiency while meeting the required level of test coverage for modern complex digital integrated circuits of large and ultra-large scale of integration. This paper discusses the strategy of developing a new rapid testing methodology based on the widespread use of numerical simulation and computer aided design systems for assessing radiation-hardness assurance of integrated circuits | |
| Располагается в коллекциях: | 2020. Материалы и структуры современной электроники | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 206-209.pdf | 421,27 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.