Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/257267Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Клунникова, Ю. В. | |
| dc.contributor.author | Малюков, С. П. | |
| dc.contributor.author | Филимонов, А. В. | |
| dc.date.accessioned | 2021-03-24T12:26:08Z | - |
| dc.date.available | 2021-03-24T12:26:08Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 55-59. | |
| dc.identifier.isbn | 978-985-881-073-3 | |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/257267 | - |
| dc.description | Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе | |
| dc.description.abstract | Изменения структуры и свойств поверхностных слоев сапфировых подложек оказывают существенное влияние на эксплуатацию микроэлектронных устройств на их основе. Проведено исследование появления приповерхностных дефектов в сапфировых подложках, которое явилось основой для оптимизации процессов обработки кристаллов сапфира, а также для формирования рекомендаций по определению свойств приповерхностных слоев сапфира, усовершенствованию качества кристалла | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Исследование влияния приповерхностного дефектного слоя сапфировых подложек на устройства микроэлектроники | |
| dc.title.alternative | Study of sapphire substrate devective layer influence on microelectronic devices / Yu. V. Klunnikova, S. P. Malyukov, A. V. Filimonov | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | The changes in the structure and properties of the sapphire substrates surface layers have a significant effect on the microelectronic devices. The study of the surface defects in sapphire substrates was carried out. This study is the basis for the sapphire crystals processing optimization and the recommendations formation for sapphire surface layer properties definition and improvement of crystal quality | |
| Располагается в коллекциях: | 2020. Материалы и структуры современной электроники | |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.