Статистика
Всего просмотров
| Просмотров | |
|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 154 |
Всего просмотров за месяц
| июня 2025 | июля 2025 | августа 2025 | сентября 2025 | октября 2025 | ноября 2025 | декабря 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 1 | 0 | 5 | 37 | 13 | 8 | 4 |
Загрузок файла
| Просмотров | |
|---|---|
| Стародубец.pdf | 58 |
ТОП-просмотров по странам
| Просмотров | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 55 |
| Канада | 25 |
| Германия | 11 |
| Россия | 10 |
| Китай | 9 |
| Япония | 9 |
| Украина | 6 |
| Беларусь | 5 |
| Венесуэла | 5 |
| Вьетнам | 3 |
ТОП-просмотров по городам
| Просмотров | |
|---|---|
| Houston | 32 |
| Ottawa | 25 |
| Tokyo | 9 |
| Munich | 6 |
| Caracas | 5 |
| Oakland | 5 |
| Sumy | 4 |
| Hanoi | 3 |
| Shenzhen | 3 |
| Ann Arbor | 2 |