Statistics
Total Visits
| Views | |
|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 133 |
Total Visits per Month
| April 2025 | May 2025 | June 2025 | July 2025 | August 2025 | September 2025 | October 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 3 | 0 | 1 | 0 | 5 | 37 | 4 |
File Downloads
| Views | |
|---|---|
| Стародубец.pdf | 55 |
Top Country Views
| Views | |
|---|---|
| United States | 54 |
| Canada | 22 |
| Germany | 11 |
| Russia | 10 |
| China | 7 |
| Ukraine | 6 |
| Belarus | 5 |
| Australia | 2 |
| United Kingdom | 2 |
| India | 2 |
Top City Views
| Views | |
|---|---|
| Houston | 32 |
| Ottawa | 22 |
| Munich | 6 |
| Oakland | 5 |
| Sumy | 4 |
| Shenzhen | 3 |
| Ann Arbor | 2 |
| Fairfield | 2 |
| Hanoi | 2 |
| Minsk | 2 |