Statistics
Total Visits
| Views | |
|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 87 |
Total Visits per Month
| January 2025 | February 2025 | March 2025 | April 2025 | May 2025 | June 2025 | July 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 18 | 3 | 2 | 3 | 0 | 1 | 0 |
File Downloads
| Views | |
|---|---|
| Стародубец.pdf | 47 |
Top Country Views
| Views | |
|---|---|
| Canada | 22 |
| United States | 20 |
| Germany | 10 |
| Russia | 10 |
| Ukraine | 5 |
| Belarus | 4 |
| China | 4 |
| Australia | 2 |
| United Kingdom | 2 |
| Japan | 2 |
Top City Views
| Views | |
|---|---|
| Ottawa | 22 |
| Munich | 6 |
| Oakland | 5 |
| Sumy | 4 |
| Shenzhen | 3 |
| Ann Arbor | 2 |
| Fairfield | 2 |
| Minsk | 2 |
| Rochester | 2 |
| Tokyo | 2 |