Statistics
Total Visits
| Views | |
|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 196 |
Total Visits per Month
| August 2025 | September 2025 | October 2025 | November 2025 | December 2025 | January 2026 | February 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Определение линейных размеров, элементного состава, дефектов интегральных микросхем методом сканирующей растровой электронной микроскопии : реферат к дипломной работе / Евгений Егорович Стародубец; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Петлицкий А. Н., Карпович И. А. | 5 | 37 | 13 | 8 | 8 | 38 | 0 |
File Downloads
| Views | |
|---|---|
| Стародубец.pdf | 64 |
Top Country Views
| Views | |
|---|---|
| United States | 62 |
| Canada | 35 |
| Japan | 21 |
| Russia | 13 |
| Germany | 11 |
| China | 10 |
| Ukraine | 6 |
| Belarus | 5 |
| Venezuela | 5 |
| Brazil | 3 |
Top City Views
| Views | |
|---|---|
| Ottawa | 35 |
| Houston | 32 |
| Tokyo | 21 |
| Munich | 6 |
| Caracas | 5 |
| Oakland | 5 |
| Sumy | 4 |
| Beijing | 3 |
| Hanoi | 3 |
| Shenzhen | 3 |